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用于原子力显微镜的样品位置可控的外平台系统及使用该系统的观察方法

KR1020190089383 2019-7-24 发明申请

2019-12-27

本发明提供一种外部载物台系统和使用该外部载物台系统的观察方法，以通过使用能够从原子力显微镜(AFM)的外部控制样品的位置的(探针)外部载物台系统来提高原子力显微镜的测量，速度。