| X射线荧光光谱仪 |
| EP19922291 2019-12-6 发明申请 |
| 2022-2-9 |
| 本发明的X射线荧光光谱仪包括计数时间计算单元(13)，其被配置为： 通过预定的定量计算方法， 通过使用一个标准样品的参考强度来确定每个定量值，并且在只有一个测量线的测量强度改变了预定值的情况下，重复执行确定每个定量值的过程， 计算每一个定量值的变化与预定值的比值，作为定量值与强度变化的比值，在每次重复该过程时，具有要被改变的测量强度的测量线之一是不同的； 以及使用由此计算出的所有测量线的定量值与强度的变化率，从为每个定量值指定的定量精度计算每个测量线的计数时间。 |
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