| 光谱仪 |
| DE102020216283 2020-12-18 发明申请 |
| 2022-6-23 |
| 本发明涉及一种光谱仪，所述光谱仪包括多个量子点阵列，所述阵列被布置成使得由光源发射的初级光入射到其上并且激发所述量子点，使得所述量子点发射次级光，使得所述次级光能够入射到样品上，所述次级光具有与所述初级光不同的光谱分布，至少一个检测器，所述至少一个检测器被配置成接收由所述样品反射或透射的所述次级光， 以及评估装置，所述评估装置被配置成确定由所述至少一个检测器接收的所述次级光的光谱信息。 本发明还涉及一种用于制造这种分光计的方法。 |
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