| X射线光谱仪和使用方法 |
| US16333405 2017-9-15 发明申请 |
| 2019-8-22 |
| 一种光谱仪，包括具有限定罗兰圆的曲率半径的晶体分析器， 一样品台，其被配置为支撑样品，使得样品偏离罗兰圆；一X射线源，其被配置为向样品台发射未聚焦的X射线；以及一位置敏感检测器，其与罗兰圆相切。 一种通过光谱仪执行的方法，包括发射， 通过X射线源， 未聚焦的X射线朝向安装在样品台上的样品，使得样品偏离罗兰圆， 从而使样品发射入射到晶体分析仪上的X射线或透射一部分未聚焦的X射线入射到晶体分析仪上； 通过所述晶体分析器散射入射到所述晶体分析器上的所述X射线； 以及通过与罗兰圆相切的位置敏感检测器检测散射的X射线。 |
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