| 一种基于高光谱数据升维的特征光谱提取方法 |
| CN202310838600.4 2023-7-10 发明申请 |
| 2023-10-13 |
| 本发明提供了一种基于高光谱数据升维的特征光谱提取方法，适用于任意具有高光谱反射率物体的特征光谱提取。该方法包括使用光谱仪采集被测样本和白板的高光谱辐亮度，并对其进行预处理，求出被测样本的高光谱反射率；然后，通过数学运算将被测样本的高光谱一维反射率升维得到高光谱二维矩阵，再进行特征提取得到特征向量，并将其应用于分类或回归模型的训练和验证，得到高精度分类或回归模型；最后，将特征向量映射回高光谱波长，得到相应的高精度分类或回归模型的特征光谱。与传统的降维方法通过降低光谱波长的数量相比，该方法能最大程度上挖掘出高光谱数据中的信息，提取出对应问题的特征光谱，并提高分类或回归模型的精度。 |
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