| 一种基于系统性能指标的光谱仪标定方法 |
| CN202310696735.1 2023-6-13 发明申请 |
| 2023-10-10 |
| 本发明涉及一种基于系统性能指标的光谱仪标定方法，具体是基于系统性能指标如轴向分辨率和灵敏度下降的光谱仪标定方法，通过对轴向分辨率和灵敏度下降结果的分析，确定光谱仪的标定参数。在标定过程中，通过不断改变光谱仪的标定参数，可以观察频域OCT(Spectral Domain Optical Coherence Tomography，SD?OCT)系统的性能表现，并实时调整参数。通过评估不同标定参数设置下的频域OCT系统性能，可以实现系统性能的优化。这种基于轴向分辨率和灵敏度下降的光谱仪标定方法在频域OCT成像领域具有广阔的应用前景。 |
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