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结构光显微镜，观察方法和程序

JP2019500074 2017-2-14 发明申请

2019-12-19

结构光显微镜位于其中。 (1)结构光显微镜[A]， (x)用于激发样品中所含荧光物质的激发光，用干涉条纹照明光学系统(11)照射样品，干涉条纹(41)，改变控制部的相位；以及至少一个锁存检测部(35)，其在来自样本1的光的频率下，利用锁存检测部(40)生成至少一部分检测信号并生成样本。