| 一种测量电子空穴复合发光速率的实验方法 |
| CN202310462499.7 2023-4-26 发明申请 |
| 2023-7-25 |
| 本发明公开了一种测量电子空穴复合发光速率的实验方法，该实验方法的装置包括激光芯片(芯片水平两侧端面仅一端镀有增透膜)、平凸透镜、偏光镜、光纤耦合器、光纤及光谱仪。在芯片两侧的同一水平线上依次放置平凸透镜、偏光镜、平凸透镜、光纤耦合器，用光纤连接光纤耦合器与光谱仪。首先对激光芯片施加能量，芯片两侧会辐射发光，通过平凸透镜将两侧光谱分别聚焦到光纤耦合器，再通过光纤传输给光谱仪。通过转动偏光镜可选择不同的偏振光谱，获得横向电场/横向磁场模式下的特定光谱图像，最后将两端光谱数据带入建立的公式，即可计算出激光芯片电子和空穴的复合速率。 |
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