| 反射式灰阶测试卡测量系统及方法 |
| CN202110148477.4 2021-2-3 发明申请 |
| 2021-6-11 |
| 本发明公开了一种反射式灰阶测试卡测量系统及方法，包括光源系统、准直系统、转角系统和接收器，所述准直系统为光轨，所述光源系统和样品架设置在光轨上，并在一条直线上，且光源系统与样品架之间设置有光阑；所述转角系统45/0几何测量条件的转角平台，用于控制测量壁和样品架旋转；所述接收器为安装在测量壁上的光谱分光辐射度计；在卤素灯周围加装平行光管做光源，采用双轴步进电机和基于PCI接口的微机机内置式PCI试验卡，实现45/0转角系统的自动控制；用已知标准值的标准白板做标准，用相对测量的方法，实现反射式光密度的无接触测量。 |
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