| 基于纳米天线的用于材料物性检测的光谱系统 |
| IN202311038340 2023-6-5 发明申请 |
| 2023-7-7 |
| 用于材料物理特性检测的基于纳米天线的光谱系统摘要公开了一种用于确定材料的物理特性的系统，包括衬底、多个纳米天线、光源、光电检测器、处理器和反馈机构。 固定到衬底上的纳米天线被设计成在与其几何结构相关的特定频率下谐振，并在其末端放大光的电场。 光源用光子照射纳米天线，所述光子被纳米天线捕获并增强以用于高效和灵敏的拉曼光谱术。 所述光电检测器被配置为识别在照射之后从所述纳米天线发射的光子。 可操作地链接到光电检测器的处理器采用机器学习算法来处理检测到的数据并辨别材料的物理特性。 连接到处理器和光源的反馈机构实时调整光子频率或强度，或纳米天线几何形状，由机器学习算法输出通知。 该系统提供了对材料特性的准确、高效、自适应的分析。 |
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