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产业专利数据

直接单颗粒组成分析

US18109119 2023-2-13 发明申请

2023-6-22

用于将样品引入分析装置以进行单颗粒组成分析的系统和方法。合适的分析装置包括例如电感耦合等离子体光发射光谱仪。在引入分析装置之前，例如使用气体交换装置用氩气交换样品气体。分析装置可以用液体样品校准，液体样品在进入分析装置之前被雾化。