一种芯片缺陷检测机
 
CN202223560822.4  2022-12-30  实用新型

2023-6-20
 
  本实用新型公开了一种芯片缺陷检测机,包括机台,机台上设有能够调节宽度的输送机构,输送机构的上方设有CCD相机模组,CCD相机模组由Z轴升降驱动控制升降,Z轴升降驱动包括立板,立板的底部设有用于测量高度的光谱仪,Z轴升降驱动由X轴驱动控制移动,X轴驱动由Y轴驱动控制移动。本实用新型利用光谱仪辅助Z轴升降驱动来定位CCD相机模组,位置更精确。本实用新型还采用了能够调节宽度的输送机构,方便根据不同大小的料盘进行调节,适应范围更广。
 
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