| 一种用于超导阵列单光子探测器的测试系统 |
| CN202211691922.2 2022-12-27 发明申请 |
| 2023-6-13 |
| 本发明提出一种用于超导阵列单光子探测器的测试系统，包括测试光源、制冷机和低温读出电路，该系统可以实现不同波段的单光子脉冲响应测试和光谱响应测试，具备不同温度条件的变温测试。该系统利用T型低温偏置器和低温射频放大器，可最大限度降低测试信号的传输衰减，为超导大规模阵列探测器芯片测试提供全新的测试思路。该系统内部各组件均来自成熟的商用器件，完成光路校准和安装后，可持续稳定使用。该系统适用于超导阵列单光子探测器测试领域。 |
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