| 一种自聚焦透镜激光薄膜光谱特性测试系统及方法 |
| CN202310260200.X 2023-3-17 发明申请 |
| 2023-6-13 |
| 本发明提供了一种自聚焦透镜激光薄膜光谱特性测试系统及方法，包括：自聚焦透镜入射端镀有点火激光波长增透膜和自检激光波长增透膜；自聚焦透镜出射端镀有点火激光波长增透膜和自检激光波长反射膜；点火激光光源发射的点火激光和自检激光光源发射的自检激光经光纤耦合器入射至自聚焦透镜；点火激光依次透过自聚焦透镜的入射端和出射端进入点火激光光强计和光谱仪；自检激光透过自聚焦透镜的入射端，经过自聚焦透镜的出射端反射后，沿原光路返回至光纤耦合器，并进入自检激光光强计和光谱仪。本发明实现了对自聚焦透镜火工品的点火激光和自检激光光谱的检测，可对自聚焦透镜薄膜进行准确测量。 |
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