| 一种光源测量系统 |
| CN202310259302.X 2023-3-15 发明申请 |
| 2023-6-6 |
| 本申请的目的是提供一种光源测量系统，该系统可以达到波长1nm的光数据测量精度要求，由于测量的波长精度更高，使得计算得到的被测光源的三刺激值XYZ、色坐标xy、照度Ev以及色温TCP这几个参数的数据更加的精准有效，无需人工拿着光谱计手动去反复测量后把数据手动导出来经过复杂的公式去运算得到，这样会大大增加了的工程师的人力计算时间成本，上述几个参数都可以通过本申请提供的一种光源测量系统自动获取计算得到，这样可以节省很多的人工成本，提高了测试数据的精度性，能够快速准确的得到被测光源的各个参数，整个测试流程全部自动化运行，无需人工干预，大大提高了测试工程师的测试效率，把工程师从繁杂的体力、脑力劳动中解放出来。 |
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