使用扫描探针显微镜的光刻方法
 
KR1020180058201  2018-5-23  发明申请

2019-12-3
 
  本发明涉及一种使用探针的光刻方法,即原子力显微镜,更具体地说,涉及一种用于形成(凸起)的光刻方法。 一种使用探针型原子力显微镜(AFM)的多层图案(凸起)。
 
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