| 基于DMD的荧光光谱探测方法 |
| CN202111464695.5 2021-12-2 发明申请 |
| 2022-4-8 |
| 本发明涉及荧光光谱探测的技术领域，公开了基于DMD的荧光光谱探测方法，包括以下步骤：S1：搭建荧光光谱探测的光学系统，光学系统包括DMD、色散单元和探测器；S2：获取光学系统的光谱矫正系数R，包括以下步骤：S21：测量标准光源的光谱数据L；S22：将标准光源导入光学系统，在DMD上加载多幅光谱图案，测得光谱数据S；则光谱矫正系数R＝(S?B)/L，B为噪声；S3：重建荧光光谱，将标准光源换成待测样品，多幅光谱图案，测得光谱数据I；则待测样品的荧光光谱f＝(I*L)/(S?B)。采用了DMD对色散光进行选择性的输出，充分利用DMD像素级调控的优势对光谱进行拆分、编码和重建，本探测方法的光谱的采样点比多通道探测器多，光谱检测的精度和方式要优于多通道探测器。 |
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