| 光学测量系统和探头 |
| WOJP21031779 2021-8-30 发明申请 |
| 2022-3-10 |
| 本发明提供一种光学测量系统，其测量样品的光谱反射率。 该光学测量系统包括：产生测量光的光源； 光接收单元，其接收当用测量光照射样品时产生的光作为观察光； 与光源和光接收单元光学连接并可定位在任意位置上的探头； 以及计算处理单元，其基于光接收单元的检测结果来测量样品的光谱反射率，并且基于所测量的光谱反射率来计算测量结果。 探头包括由使用者抓握的主体部分和能够弯曲以使得测量光能够垂直地照射到样品上的柔性部分。 |
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