| 光谱学源-检测器链路质量分析仪 |
| US18048990 2022-10-24 发明申请 |
| 2023-4-27 |
| 光谱系统包括多个光源、多个检测器和控制电路。 控制电路可被配置为控制每个光源以将频率调制光束输出到对象中并从检测器接收检测器特定数据。 检测器专用数据可以表示从与物体相互作用的频率调制光束产生的散射和未吸收的光。 所述控制电路可以进一步被配置为针对由第一光源与第一检测器的配对定义的源-检测器链路，基于从所述源-检测器链路的检测器特定数据提取的接收相位信息和来自所述第一光源的第一频率调制光束的源相位信息来确定链路相位差。 而且，控制电路可以被配置为基于链路相位差来确定源-检测器链路的源-检测器链路质量度量。 |
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