| 一种基于原子力显微镜的纳米颗粒浓度测量方法 |
| CN201910839493.0 2019-9-5 发明申请 |
| 2019-11-8 |
| 本发明公开一种基于原子力显微镜的纳米颗粒浓度检测方法，包括：快速制备待测纳米颗粒样本；将所述样本置于原子力显微镜的真空吸盘上，沿样本的直径方向选择多个待测点，分别对所述待测点进行扫面及图像采集；分别统计各待测点图像中纳米颗粒个数，并绘制曲线图；将对称位置被测点的颗粒数目总数取平均值，重新绘制曲线图。根据新的曲线图的分布规律计算圆内的纳米颗粒浓度。本发明使用原子力显微镜(AFM)测量纳米颗粒，特别是未知浓度的纳米颗粒具有制样简单快速、原位测试、灵敏度高、不破坏样本等优点，能够最大限度同时测出未知样本的真实浓度、颗粒的粒径和表征、形态等参数。 |
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