| X射线荧光光谱仪 |
| EP21807987 2021-2-24 发明申请 |
| 2022-8-3 |
| 根据本发明的连续X射线荧光光谱仪包括：总分析时间显示单元，被配置为测量； 对于每种分析样品，标准样品包含已知含量的组分作为标准值，以确定对应于该组分的每条测量线的测量强度。 总分析时间显示单元还被配置为针对每个部件计算计数时间，该计数时间通过使用标准值和所测量的强度给出指定的分析精度，并且计算总计数时间作为各个部件的计数时间之和。 总分析时间显示单元被配置为计算总分析时间，作为总计数时间和总非计数时间的总和，并且输出计算出的总分析时间和计算出的各个部件的计数时间。 |
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