| 一种用于泵浦探测光谱仪的样品温度调控系统 |
| CN202210594871.5 2022-5-27 发明申请 |
| 2022-9-9 |
| 本发明提供一种用于泵浦探测光谱仪的样品温度调控系统,包括真空和气氛调节系统、温度调节系统。腔体顶部中间位置设置有三通阀孔,三通阀孔连接真空三通阀和真空表;腔体侧面设置有外循环水进出孔、气体置换孔以及腔体内部与外部的通电孔;温度调节系统依托在底部支架上,底部支架的槽里依次放有水冷头、制冷片和比色皿支架;比色皿架上安有热敏探头,用于探测样品的温度,用PID控制器控制制冷片功率输出;温度调节系统可精确调控温度范围?50℃到+150℃。本发明可用于泵浦探测光谱仪器,腔体部分结构简单、设计合理,装置密封性好,能够抽取真空,去除样品中溶解的空气成份,并且采取外循环水与制冷片联合调控样品温度。 |