| 用于地质样品分析的高光谱成像系统 |
| US17902379 2022-9-2 发明申请 |
| 2022-12-29 |
| 改进的成像和光谱装置和系统，特别是适用于土壤和其它地质物质以及其它类型样品的分析的高光谱系统和装置。 高光谱系统包括衍射光栅和线性图像传感器，以及可选地光源、透镜、狭缝和数字光处理器中的一个或多个，以及相应的控制处理器和存储器。 除了其它优点之外，高光谱系统和装置能够使用可见、红外和/或紫外电磁辐射对诸如岩心样品和其它类型的土壤块的分析样品中的特定点、区域和/或区域进行详细的光谱分析。 |
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