| 用于扫描探针显微镜的非局部扫描探针 |
| US16393367 2019-4-24 发明申请 |
| 2019-10-24 |
| 该系统被配置用于经由非局部连续线探针执行扫描电化学显微术。 所述连续线探针包括绝缘探针基底、绝缘层和导电带电极。 该系统包括样品台，该样品台用于定位待成像的样品基板，以便能够以角度Θ clp与绝缘探针基板接触。 连续线探针平移穿过样品基底，并且识别在连续线探针处产生的信号的变化以指示样品基底上的特征的存在。 经由旋转样品台或连续线探针以不同角度执行多个扫描，其结果被组合和分析以经由压缩感测重建产生样品基底的图像。 所得到的图像具有与通过常规扫描电化学显微术过程产生的图像相当的分辨率，但是在较少的扫描时间和较不复杂的扫描硬件中。 |
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