| X射线荧光分析仪及方法 |
| JP2022077951 2022-5-11 发明申请 |
| 2022-11-25 |
| 挑战：提供能够提供经济，方便和可靠分析的XRF分析仪。解决方案：提供用于分析样品的XRF光谱仪。 该荧光X射线分析仪包括X射线源，用于将样品保持在空气中的测量室和X射线检测器。 所述X射线源被布置成使得所述样品被初级X射线束照射并且所述样品发出荧光。 X射线检测器被布置成检测由样品发射的特征X射线，并且确定与特征X射线相关的X射线强度测量值。 透射主X射线束的X射线滤光器设置在X射线源和样品之间。 X射线源具有原子序数小于25的材料的阳极。 所述荧光X射线分析仪还包括传感器机构，所述传感器机构被配置为感测空气压力和空气温度。 处理器接收X射线强度测量值。 处理器还从传感器机构接收空气压力数据和空气温度数据。 所述处理器被配置为执行校正计算，所述校正计算使用空气压力数据和空气温度数据来调整X射线强度测量值。 |
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