| 校正尺寸函数的建立方法及频率校正高光谱图像的生成方法 |
| DE102019203562 2019-3-15 发明授权 |
| 2022-11-3 |
| 一种用于确定校正量函数Kf(x，y)的方法，用于校准具有IR检测器的FTIR测量装置。 IR检测器包括多个传感器元件， 每一个都位于一个位置(X， y)， 该方法包括： (a)使用IR检测器的传感器元件记录参比样品的干涉图IFGRXY， (b)通过对至少四个传感器元件的参考样本的干涉图进行傅立叶变换来计算参考样本的光谱Rxy， (c)通过将在步骤b)中计算的参考样本的每个光谱Rxy与参考样本的参考数据集进行比较来计算校正量Kxy，以及(d)使用在步骤c)中计算的校正量Kxy来确定校正量函数Kf(x，y)。 这允许不管传感器元件的位置如何，都能有效地校正在具有广泛检测器的FTIR光谱仪中发生的频移。 |
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