| 一种极端条件下圆偏振吸收、发射光谱和显微成像系统 |
| CN202210604020.4 2022-5-29 发明申请 |
| 2022-9-6 |
| 本发明涉及一种极端条件下圆偏振吸收、发射光谱和显微成像系统，属光谱测量成像领域。包括光源系统部分Ⅰ、微区光路部分Ⅱ、频谱采集部分Ⅲ和微区成像部分Ⅳ；光源系统部分Ⅰ的全反射镜二或透镜二与微区光路部分Ⅱ的反射式物镜一光路连接，微区光路部分Ⅱ的光阑与频谱采集部分Ⅲ的透镜三光路连接，微区成像部分Ⅳ的缩束镜头位于频谱采集部分Ⅲ的全反射镜三的后方。本发明对金刚石对顶砧压机内微小砧面或低温罐中的极端条件下手性材料进行发光和吸收的探测及成像，具有很好的准直性，操作的灵活方便。 |
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