| 图像测量机和材料表面光谱 |
| TH2101005670 2021-9-18 发明申请 |
| 2022-10-31 |
| 本发明提供了一种用于测量材料表面的显微图像、从材料内散射的光谱的装置。 并且来自位于材料表面上的荧光分子的光可以通过创建光谱带的虚像而在内部是相同的装置。 这是通过在第一光路中用与表面的虚像相同的焦平面上的光栅分离来自五个材料样品的光而引起的。 出现在第二光路中的样品材料有一个凸透镜来控制这种图像的出现。 同样的平面还有另一个凸透镜，允许这样的图像出现在相机的传感器上。 另外，还有用于开闭光路的系统。 为了交替地读取光谱信号和图像信号，存在用于测量参考光谱信号的系统，其具有安装在装置10内部的参考板，以参考光谱信号的位置和光强度。 并且光源安装有许多波长的光，以使用光学材料校准装置内部的波长。 量最少 |
微信公众号