| 图像测量机和材料表面光谱 |
| TH2101005671 2021-9-18 发明申请 |
| 2022-10-31 |
| 本发明提供了一种用于测量材料表面的显微图像、从材料内散射的光谱的装置。 并且来自位于材料表面上的荧光分子的光可以通过创建光谱带的虚像而在内部是相同的装置。 这是通过在第一光路中用与表面的实际图像相同的焦平面上的光栅分离来自五个材料样品的光而引起的。 在第二光路中出现的样品材料具有控制图像形成的凸透镜。 同样的平面还有另一个凸透镜，允许这样的图像出现在相机的传感器上。 另外，还有用于开闭光路的系统。 为了在读取光谱信号和图像信号之间切换，存在用于测量参考光谱信号的系统，该系统具有安装在设备10内部的参考板，以参考光谱信号的位置和光强度。 安装有光源。 多个波长以用于校准器件内部的波长等并具有光学系统通过布置沟、凸透镜.以对材料表面的小物体进行高倍率成像并提供非光学材料。 需要与样品材料直接接触。 |
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