| 图像测量机和材料表面光谱 |
| TH2101005672 2021-9-18 发明申请 |
| 2022-10-24 |
| 本发明提供了一种用于测量材料表面酸败的显微图像、从材料内散射的光谱的装置。 以及同时来自位于材料表面的荧光分子的光。 在单个装置内，其依赖于将来自样品材料的光分离成两个平行光束，其中第一光束用于利用光栅分离光谱。 并且第二光束将用于通过滤光器滤除不需要的光，然后用凸透镜放大图像。 使用将光聚焦在一起的平面透镜布置，最终利用凸透镜将两个光束聚焦在同一平面中，使得图像传感器或相机可以在不同的图像点上同时检测两个光信号。 此外，该装置具有检测系统。 用参考板测量参考光谱信号。 在装置等中，安装有多个波长的光源。 并具有通过布置凸透镜对的光学系统，以高倍率对材料表面的小物体成像，并提供非光学材料。 需要与样品材料直接接触。 |
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