| 一种基于干涉光谱的相位型SPR检测装置及方法 |
| CN201911235449.5 2019-12-5 发明申请 |
| 2020-3-27 |
| 本发明提供了一种基于干涉光谱的相位型SPR检测装置及方法，所述装置包括：光源、偏振器、波片、SPR传感模块、光谱仪以及控制终端。本发明利用具有一定厚度的波片对入射光中的P偏振光和S偏振光产生相位延迟，从而发生光谱干涉现象；通过对干涉光谱进行频域?时域联合算法实时分析SPR共振波长和相位，提高了SPR相位提取准确度；通过获得不同折射率样品的共振波长，通过共振波长获取有效干涉光谱，进而从有效干涉光谱中提取出SPR相位变化，并根据所述SPR相位变化得到待测样品的检测结果，相比于传统相位调制SPR技术，在不需要任何调制器下实现了大动态范围的SPR相位检测，具有抗噪能力强、研发成本低的优势。 |
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