| 扫描式双层二次衍射线阵光谱仪波长标定方法 |
| CN202210481451.6 2022-5-5 发明申请 |
| 2022-9-9 |
| 本发明属于光学测量技术领域，公开了一种扫描式双层二次衍射线阵光谱仪波长标定方法，高精度光谱仪主要是硬件上选择高线对数光栅、采用单次或者多次色散、长焦距汇聚镜、扫描摄谱等技术实现高准确度波长测量，该类光谱仪具备高光谱分辨率、高波长准确度等技术特点，标定方法首先对线阵探测器中心像元的波长标定，然后对线阵探测器非中心像元的波长标定。本发明可解决此类光谱仪波长的准确标定，尤其可实现紫外到近红外波段波长准确度±0.05nm的二次衍射的线阵光谱仪波长标定。 |
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