| 一种低温光谱发射率测量系统 |
| CN201910810404.X 2019-8-29 发明申请 |
| 2019-11-5 |
| 本发明公开了一种低温光谱发射率测量系统，其包括变温黑体、低温样品炉、平面反射镜、低温参考黑体、低温斩波器、光路传输管道、反射镜真空仓、标准辐射计、椭球面反射镜、样品真空仓、低温光阑、金刚石窗片、傅立叶红外光谱仪、锁相放大器和信号传输线，通过低温斩波器实现低温发射辐射信号的斩波调制，并经过锁相放大器放大后输入傅立叶红外光谱仪进行傅立叶变换得到增强的红外辐射信号，从而有效减少噪音带来的影响。本发明能够对低温辐射信号进行低温斩波调制，并进行锁相放大，减小了测量系统噪声的影响；本发明将斩波调制技术与傅立叶变换技术相结合，极大地提高了测量系统的信噪比。 |
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