| 用于具有原位尖端调节的自主扫描探针显微镜的系统和方法 |
| CA3092157 2019-3-19 发明申请 |
| 2019-9-26 |
| 一种用于评估扫描探针显微镜(SPM)的尖端质量的方法，包括：记录SPM图像； 从SPM图像中提取悬挂键的多个图像， 将提取的悬垂键图像一次一幅地送入卷积神经网络， 使用卷积神经网络分析悬垂键的多个图像中的每一个， 分配悬空键的多个图像中的每一个为锐利尖端状态或双尖端状态之一，以及确定分配双尖端状态的SPM图像的悬空键的多个图像的数目是否超过预定阈值。 还提供了一种在样品成像期间自动调节扫描探针显微镜(SPM)的尖端的方法，以及一种批量生产原子量子点，量子位或特定原子轨道占用的方法。 |
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