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用于样品测量的光谱仪系统

KR1020200180931 2020-12-22 发明申请

2022-6-29

本发明涉及一种用于样品测量的光谱系统，更具体地说，当通过用光谱仪测量在将激光照射到样品上之后产生的光来测量样品的成分时，防止光谱仪中的光饱和和最小化由存在于外部的自然光引起的测量误差，本发明涉及一种用于光谱学的光谱仪系统，其可以通过最小化测量误差来改进。