荧光X射线分析仪
 
KR1020217006519  2019-6-6  发明申请

2021-4-2
 
  下面描述本发明的荧光X射线分析仪。 基于多波分析器13输出的差分曲线和比1车道分析线窄的预定窄波宽, 同时获得分析波宽分布和窄波高分布,所述窄波高分布是由互锁装置(7)对于扫描角(x)的第102°线(2)的强度分布。 然后,相对于分析波高度分布和窄波高度分布识别分析线,并且仅在窄波宽度分布中识别的分析线被添加到分析部分宽度分布中识别的分析线以识别分析线。
 
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