| 一种基于相位探测的光学材料折射率谱测量系统与方法 |
| CN202110175297.5 2021-2-9 发明申请 |
| 2021-6-18 |
| 本发明公开了一种基于相位探测的光学材料折射率谱测量系统与方法，包括扫频光源、第一和第二光纤耦合器、第一和第二透射式准直器、第一和第二反射式准直器、第一和第二偏振控制器、平衡探测器、数字示波器和计算机等。本发明利用一马赫?曾德干涉结构的扫频光学相干层析成像系统来采集干涉光谱信号，通过希尔伯特变换来获得相位分布；通过探测样品引起的相位变化、和利用本发明提出的理论公式，来获得样品在宽光谱范围内的连续折射率谱分布；利用波长线性分布重采样矢量对样品引起的相位变化进行重采样，来获取随波长线性分布的折射率谱。本发明的原理简单、和系统具有小型化潜能，使其有可能成为折射率测量的有用工具、并适用于一些特殊场合。 |
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