| 时间门控光谱术中的荧光和系统噪声降低 |
| US17003825 2020-8-26 发明申请 |
| 2020-12-17 |
| 公开了用于在时间门控光谱术中减少荧光和系统噪声的系统和方法。 示例性方法包括：一种用于在时间门控光谱术中减少荧光和系统噪声的方法，可包括：使用激发光源提供第一光； 由检测器在第一时间窗期间接收来自响应于第一光的材料的第一散射光； 检测第一散射光的峰值强度； 在第二时间窗期间，由检测器接收来自材料的响应于第一光的第二散射光； 检测第二散射光的峰值强度； 通过取第一散射光的峰值强度与第二散射光的峰值强度之比来恢复材料的光谱； 以及使用所述回收的光谱和所识别的光谱的数据库来识别所述材料的至少一个分子。 |
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