| 一种差动干涉显微镜及X射线成像方法 |
| JP2018028703 2018-2-21 发明申请 |
| 2019-8-29 |
| 通过使用X射线源线[a]获得的差分干涉对比图像，X射线成像方法的对象得到具有高分辨率的差分干涉显微镜和观察。 [解决方案]将通过Gabor全息图X照射被观察物体而得到的空间频率分布转换为复振幅分布，空间频率滤波处理的正负分布中的每一个都包括零空间频率分离。 另外，正，负零空间频率分布的空间频率分布为3*/2*/2零后经数值处理后相加，分别进行傅立叶逆变换得到干涉对比度图像。 图3[附图] |
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