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一种用于光谱仪的线阵CMOS数据处理方法

CN202010971679.4 2020-9-16 发明申请

2020-12-22

本发明公开了一种用于光谱仪的线阵CMOS数据处理方法，该方法为，S1、开启光谱仪；S2、选取不同浓度梯度的待测元素的单标溶液形成谱图；S3、确定待测元素的峰位置与左右背景位置；S4、采集纯水的强度数据以及采集待测元素若干不同浓度的强度数据；S5、将的待测元素的强度数据减去纯水的强度数据，得到待测元素的强度值；S6、计算待测元素的净强度值；S7、将净强度值与待测元素的含量拟合为一次函数；S8、确定未知样品的净强度值；S9、通过一次函数，求得未知样品中待测元素的含量。有效降低本底波动对光谱仪产生的影响，降低了仪器的检出限，提升了仪器的稳定性以及重复性，可以测试较难激发的元素，拓宽了光谱仪的应用。