| 一种荧光高光谱测试系统 |
| CN201910261976.7 2019-4-2 发明申请 |
| 2019-8-23 |
| 本发明公开了一种荧光高光谱测试系统，本发明属于高光谱测试技术领域，涉及一种荧光高光谱测试系统。本发明的一种荧光高光谱测试系统，其光线依次通过第一聚焦透镜、光波导、激发滤光片组、导光管、第二聚焦透镜、反射镜、样品台、发射滤光片组，最后被高光谱相机捕捉，可为荧光高光谱成像提供较大面积的照射光斑，并使光线均匀的照射在样品上，增加成像效果，且避免了入射光直接照射样品带来损坏的问题，且光路互不影响，提高了检测的准确性；还可快速完成氙灯光源和卤素光源的切换，提高了工作效率。 |
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