| 基于干涉效应的成像光谱仪及高空间分辨率光谱成像方法 |
| CN201811513996.0 2018-12-11 发明申请 |
| 2019-5-3 |
| 本发明提出一种基于干涉效应的成像光谱仪及高空间分辨率成像光谱成像方法；通过控制器件不同控制条件下同一个像素元所探测到的相干光强度互不相同，代入到矩阵方程计算光谱，可通过控制器件输出更多的控制参数实现更高的光谱分辨率；由于阵列式探测芯片上的像素元数量较多，通过对待测目标进行区域划分，每个像素元都可以用来对待测成像区域的不同子单元区域进行光谱测量，因此光谱成像的空间分辨率较高；在使用过程中可通过选择合适的波长转换光学材料，或选择合适的阵列式探测芯片，使得成像光谱仪的频谱测量范围较宽。本成像系统制备工艺简单，不需要光栅等精密光学器件，与传统超光谱成像系统相比，体积较小，成本较低，性能较高。 |
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