| 一种透射电子显微镜用原位样品杆 |
| CN201810060819.5 2018-1-22 发明申请 |
| 2019-7-30 |
| 本发明涉及材料分析测试技术领域，尤其涉及透射电子显微镜配件及低维材料原位测量研究领域。本发明解决透射电子显微镜用原位样品杆不能实现低温区精确控温的技术问题，提供一种透射电子显微镜用原位样品杆，该样品杆包括样品杆杆身、密封测试腔室、被动式制冷器、主动式制冷器、测温器和控温器，密封测试腔室设于样品杆杆身前方，被动式制冷器对密封测试腔室进行被动式制冷，主动式制冷器对密封测试腔室进行主动式制冷，测温器检测密封测试腔室内温度，控温器根据测温器的测量值控制主动式制冷器进行主动制冷。利用被动式制冷器作为一级制冷，主动式制冷器作为二级制冷，使样品杆可以实现在低温区精确控温。 |
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