| 用于测量基于半导体的光源的装置和方法 |
| DE102018130006 2018-11-27 发明申请 |
| 2020-5-28 |
| 本发明涉及一种用于顺序测量多个基于半导体的光源，例如LED的方法。 OLED或VCSEL，特别是相对弱光的光源，例如微型LED。 最后，本发明涉及一种用于实施该方法的装置。 本发明的任务是提供一种方法，该方法比用光电二极管或光谱仪扫描的已知方法操作更快，更准确和更灵敏。 根据本发明的方法提出，弱光光源借助于具有电流脉冲的脉冲电流源(1)被相继地充电，LED(2)的发射光脉冲借助于光电二极管(2)被转换成电荷载流子。 通过积分器电路(5)对电荷载波求和，通过A/D转换器(6)将求和的电荷载波转换为数字信号，并将数字信号转发给测量和控制单元(7)。 |
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