扫描电子显微镜和测量方法
 
US16254965  2019-1-23  发明申请

2019-7-25
 
  一种扫描电子显微镜,包括FIB柱,SEM柱和控制FIB柱和SEM柱的控制单元。 控制单元执行 : 处理以控制FIB柱,使得以预定间隔重复暴露样品S的横截面; 在每次曝光试样S的横截面时,通过用电子束照射试样S的横截面来执行第一测量以获得第一图像的处理; 以及当样品S的横截面被曝光N次(N是2或更大的整数)时,通过每次用电子束照射样品S的横截面来执行第二测量以获得第二图像的处理。
 
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