| 测量半透明塑料制品的厚度 |
| EP21176100 2021-5-26 发明申请 |
| 2021-12-1 |
| 在两个阶段中测量塑料制品的厚度的系统和方法。 在初始化阶段，光电传感器在不存在待测塑料制品的情况下，针对总测量范围内的多个光谱子区域中的每一个，分别地和顺序地测量来自光源的入射光能量。 处理器通过对总测量范围内的多个光谱子区域中的每个光谱子区域的入射光能量求和来计算用于初始化阶段的基线入射信号电平。 在测量阶段，光电传感器检测在光源透过塑料制品之后入射到光电传感器上的光能。 处理器至少基于(i)由光电传感器检测的光能和(ii)计算的基线入射信号电平来计算塑料制品的厚度。 |
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