| X射线荧光光谱仪 |
| KR1020200054843 2020-5-8 发明申请 |
| 2021-11-17 |
| 本发明涉及一种X射线荧光分析仪。 用于将X射线照射到样品盒内部一侧的X射线发生器提供了用于检测荧光X射线的检测器，以使从样品盒外部发射的荧光X射线的吸收最小化，从而使从样品盒内部发射的荧光X射线的吸收最小化。 样品盒外。 针对本发明，描述了本发明。 X射线照射到样品盒的内壁表面以使由于液相引起的吸收最小化。 另外，通过放置次级靶并将在靶中产生的特征X射线再次返回到样品盒的内部，可以提高次级靶的效率。 |
微信公众号