| 阵列样品光谱测试系统 |
| CN202010343788.1 2020-4-27 发明申请 |
| 2021-11-12 |
| 本发明提供一种阵列样品光谱测试系统，包括：供载置阵列样品的样品台；设置于所述样品台上方以对样品进行光学激发的光源单元，所述光源单元具备并列或阵列排布的多个光源，所述多个光源之间的间距与所述阵列样品之间的间距相匹配；设置于所述样品台上方的多个探测器单元，多个探测器单元之间的间距与所述阵列样品之间的间距相匹配，所述探测器单元对准对应的样品时测试得到样品的光谱数据；以及与所述多个探测器单元连接的主控电脑，所述主控电脑记录并显示所述光谱数据。由本发明可以数倍增加光谱测试的效率，此外，多通道同时测试的数据可同时直观的通过软件显示对比，更增加了测试筛选的直观性和效率。 |
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