| 基于级联干涉仪的双扫频光源测距系统及方法 |
| CN201910399454.3 2019-5-14 发明申请 |
| 2019-8-16 |
| 本发明涉及一种基于级联干涉仪的双扫频光源测距系统及方法，其中第一扫频光源和第二扫频光源发出的相干光进入光纤耦合器，经分光后分别进入主干涉仪和级联马赫曾德干涉仪，进入主干涉仪部分的相干光先经过光纤耦合器分光，其中一部分再经过光纤环行器进入包含样品的共路干涉仪，返回的样品干涉光谱信号和光纤耦合器另一端输出一起进入干涉光谱信号的平衡探测装置，形成干涉光谱信号，与级联马赫曾德干涉仪中形成的参考干涉信号同步进行采集。第二扫频光源发出的光进入光纤耦合器，经分光后的另一部分光进入光源频率检测单元，波长信号进行同步采集。本发明能够提高测量的准确性和可靠性。 |
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