| 分步光饱和度超分辨荧光显微镜 |
| WOUS18067905 2018-12-28 发明申请 |
| 2019-7-4 |
| 一种显微镜检查方法和系统，包括 : 获得多个原始荧光图像； 所述多个原始荧光图像中的各个原始荧光图像是通过使用光源在样品的弱饱和区域中的各个辐照度值激发样品并捕获各个原始荧光图像而获得的； 将多个权重以一对一的对应关系施加到所述多个原始荧光图像，以产生多个加权的荧光图像，其中各个权重基于在其上获得相应的原始荧光图像的各个辐照度值； 以及线性组合所述多个加权荧光图像，从而产生具有大于衍射极限的分辨率的输出图像。 各个原始荧光图像对应于彼此不同的辐照度值。 |
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